1、導(dǎo)言
                    1.1 范圍
                    本部分適用于室溫條件下的低氣壓試驗。
                    本試驗的目的是用于確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低氣壓條件下貯存、運(yùn)輸或使用的適應(yīng)性。
                    注:在高溫和低氣壓綜合或低溫和低氣壓綜合環(huán)境下貯存、運(yùn)輸或使用的產(chǎn)品,這種綜合環(huán)境對于施加于產(chǎn)品上的應(yīng)力或失效機(jī)理的影響是十分重要的,應(yīng)按下列標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗:
                    ——GB/T 2423.25 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
                    ——GB/T 2423. 26電工電子產(chǎn)
品環(huán)境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗
                    1.2 規(guī)范性引用文件
                    下列文件中的條款通過GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的新版本。凡是不注日期的引用文件,其新版本適用于本部分。
                    GB/T 2421電工電 子產(chǎn)品環(huán)境試驗第 1部分:總則(GB/T 2421- 1999, IEC 60068-1:
1988,IDT)
                    GB/T 2423. 25電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗(GB/T 2423. 25一2008 ,1EC 60068-2-40 :1983 ,IDT)
                    GB/T 2423. 26電工電子產(chǎn) 品環(huán)境試驗第 2部分:試驗方法試驗 Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗(GB/T 2423. 26一2008 ,1EC 60068-2-41 : 1983,IDT)
                    ISO 2533標(biāo)準(zhǔn)大氣
                    2、一般說明
                    將試驗樣品放入高低溫低氣壓試驗箱(室),然后將試驗箱(室)內(nèi)氣壓降低到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的值,并保持規(guī)定持續(xù)時間的試驗。
                    3、試驗設(shè)備
                    高低溫低氣壓試驗箱(室)應(yīng)具有能保持本部分第4章所規(guī)定的低氣壓條件的能力。
                    在恢復(fù)氣壓至正常時,應(yīng)注意避免發(fā)生由于輔助設(shè)備、裝置及導(dǎo)人不清潔的空氣而使箱內(nèi)空氣發(fā)生污染的情況。
                    當(dāng)對散熱試驗樣品進(jìn)行試驗時,相關(guān)規(guī)范可根據(jù)GB/T2423.26的要求對試驗箱(室)進(jìn)行適當(dāng)?shù)囊?guī)定。
                    4、嚴(yán)酷等級
                    相關(guān)規(guī)范應(yīng)當(dāng)規(guī)定氣壓和試驗持續(xù)時間的嚴(yán)酷等級,其值應(yīng)從4.1和4.2的規(guī)定中優(yōu)先選擇。
            
                
            
                    4.1 氣壓
                    在高低溫低氣壓試驗箱(室)中應(yīng)能保持表1中的氣壓,其容差為±5%或±0.1 kPa(取較大值),在嚴(yán)酷等級為84 kPa時的容差為±2 kPa。
                    4.2試驗持續(xù)時間
                    相關(guān)規(guī)范應(yīng)優(yōu)先選用下列試驗持續(xù)時間之一:
                    ——5 min;
                    ——30 min;
                    ——2 h;
                    ——4 h;
                    ——16 h。
                    5、預(yù)處理
                    可根據(jù)相關(guān)規(guī)范的要求進(jìn)行預(yù)處理。
                    6、初始檢測
                    應(yīng)按相關(guān)規(guī)范要求對樣品進(jìn)行視檢及電氣與機(jī)械性能檢測。
                    7、條件試驗
                    7.1高低溫低氣壓試驗箱(室)內(nèi)的溫度應(yīng)在規(guī)定的試驗標(biāo)準(zhǔn)大氣條件溫度范圍內(nèi)。
                    當(dāng)不要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗時,樣品應(yīng)在不包裝、不通電、“準(zhǔn)備使用”狀態(tài),按其正常位置(除非另有規(guī)定)放人高低溫低氣壓試驗箱(室)內(nèi)。
                    7.2 將高低溫低氣壓試驗箱(室)內(nèi)的氣壓降低到符合規(guī)定嚴(yán)酷等級的值,如有需要,相關(guān)規(guī)范可規(guī)定氣壓變化速度不大于10 kPa/ min。
                    7.3當(dāng)要求樣品在運(yùn)行狀態(tài)下進(jìn)行試驗時,樣品應(yīng)通電或加電氣負(fù)載,應(yīng)檢查確定試驗樣品是否能滿足相關(guān)規(guī)范規(guī)定的功能。試驗樣品可按規(guī)定的持續(xù)時間保持在運(yùn)行狀態(tài),或是按相關(guān)規(guī)范的要求斷開電源。
                    若相關(guān)規(guī)范要求中間檢測時,則應(yīng)進(jìn)行中間檢測。
                    對散熱試驗樣品,相關(guān)規(guī)范可要求在降低氣壓以前或以后對試驗樣品通電足夠長的時間,使其達(dá)到熱穩(wěn)定,并進(jìn)行功能試驗和(或)檢測。
                    7.4氣壓應(yīng)保持規(guī)定的持續(xù)時間。
                    7.5 使氣壓恢復(fù)到常壓,若相關(guān)規(guī)范有要求時,氣壓變化的速度應(yīng)不超過10 kPa/ min。
                    8、恢復(fù)
                    若相關(guān)規(guī)范無其他規(guī)定,試驗樣品應(yīng)保持在標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù),時間不少于1 h,但也不超過2 h。
                    9、后檢測
                    應(yīng)按相關(guān)規(guī)范的要求,對試驗樣品進(jìn)行視檢及電氣與機(jī)械性能檢測。
                    10、相關(guān)規(guī)范應(yīng)給的資料
                    相關(guān)規(guī)范應(yīng)用本試驗方法時,應(yīng)盡量給出下列適用的細(xì)節(jié):
                    a)預(yù)處理(見第5章);
                    b)初始檢測(見第6章);
                    c)條件試驗時試驗樣品狀態(tài)(見7.3);
                    d)嚴(yán)酷等級:試驗氣壓和持續(xù)時間(見第4章);
                    e)對采用壓 力變化速度的限制(見7.2和/或7.5);
                    f)條件試驗期間熱穩(wěn)定、檢測和(或)負(fù)載檢查(見7.1或7.3);
                    g)恢復(fù)(見第 8章);
                    h)后檢測(見第 9章)。
            






 
 
		
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